دانلود کتاب Characterisation and Control of Defects in Semiconductors (Materials, Circuits and Devices)
| عنوان فارسی | شناسایی و کنترل عیوب در نیمه هادی ها (مواد، مدارها و دستگاه ها) |
|---|---|
| عنوان اصلی | Characterisation and Control of Defects in Semiconductors (Materials, Circuits and Devices) |
| ناشر | The Institution of Engineering and Technology |
| نویسنده | Filip Tuomisto (editor) |
| ISBN | 1785616552, 9781785616556 |
| سال نشر | 2019 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 671 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 21 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی