دانلود کتاب Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science Book 227)
| عنوان فارسی | قابلیت اطمینان Hot-Carrier مدارهای MOS VLSI (کتاب 227 سری بین المللی Springer در مهندسی و علوم کامپیوتر) |
|---|---|
| عنوان اصلی | Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science Book 227) |
| ویرایش | 1993 |
| ناشر | |
| نویسنده | Yusuf Leblebici |
| ISBN | 9781461532507, 1461532507 |
| سال نشر | |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 0 |
| فرمت کتاب | epub - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 8 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی