دانلود کتاب Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
| عنوان فارسی | قابلیت اطمینان اتصال در بسته بندی دستگاه حافظه پیشرفته |
|---|---|
| عنوان اصلی | Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging |
| ناشر | Springer Nature |
| نویسنده | Chong Leong, Gan; Chen-Yu, Huang |
| ISBN | 9783031267086, 3031267087 |
| سال نشر | 2023 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 0 |
| فرمت کتاب | epub - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 58 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی