دانلود کتاب Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
| عنوان فارسی | تست های حافظه چند مرحله ای برای خطاهای حساس به الگو |
|---|---|
| عنوان اصلی | Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults |
| ناشر | Springer International Publishing |
| نویسنده | Mrozek, Ireneusz |
| ISBN | 9783319912035, 3319912046 |
| سال نشر | 2019 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 142 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 3 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد