دانلود کتاب Characterization in Silicon Processing
| عنوان فارسی | خصوصیات در پردازش سیلیکون |
|---|---|
| عنوان اصلی | Characterization in Silicon Processing |
| ناشر | Elsevier |
| نویسنده | Strausser, Yale |
| ISBN | 9780080523422, 9780750691727 |
| سال نشر | 1993 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 249 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 11 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد