دانلود کتاب Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
| عنوان فارسی | شناسایی عیوب رشد کریستال با روش های اشعه ایکس |
|---|---|
| عنوان اصلی | Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods |
| ویرایش | [1 ed.] |
| ناشر | Springer US |
| نویسنده | Eugene S. Meieran (auth.), Dr. Brian K. Tanner, Dr. D. Keith Bowen (eds.) |
| ISBN | 9781475711288, 9781475711264 |
| سال نشر | 1980 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 589 [614] |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 18 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی