دانلود کتاب Characterization of Defects and Deep Levels for GaN Power Devices
| عنوان فارسی | خصوصیات نقص و سطح عمیق برای دستگاه های قدرت GAN |
|---|---|
| عنوان اصلی | Characterization of Defects and Deep Levels for GaN Power Devices |
| ناشر | AIP Publishing |
| نویسنده | Tetsuo Narita and Tetsu Kachi |
| ISBN | 0735422702, 9780735422704 |
| سال نشر | 2020 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 226 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 12 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی