دانلود کتاب Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
| عنوان فارسی | ناهنجاری های آنورکتال در کودکان: جنین شناسی ، تشخیص ، درمان جراحی ، پیگیری |
|---|---|
| عنوان اصلی | Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits |
| ویرایش | 2 |
| ناشر | Springer |
| نویسنده | Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez |
| ISBN | 9780387249933, 0387249931 |
| سال نشر | 2007 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 342 |
| دسته | سازمان و پردازش داده ها |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 6 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های مرتبط