دانلود کتاب Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
| عنوان فارسی | نقص در SiO2 و دی الکتریک های مرتبط: علم و فناوری |
|---|---|
| عنوان اصلی | Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer Netherlands |
| نویسنده | Adrian C. Wright (auth.), G. Pacchioni, L. Skuja, D. L. Griscom (eds.) |
| ISBN | 9780792366867, 9789401009447 |
| سال نشر | 2000 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 618 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 27 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد