دانلود کتاب Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
| عنوان فارسی | تکنیک های طراحی برای آزمایش و بهینه سازی تست برای IC های انباشته سه بعدی مبتنی بر TSV |
|---|---|
| عنوان اصلی | Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer International Publishing |
| نویسنده | Brandon Noia, Krishnendu Chakrabarty (auth.) |
| ISBN | 9783319023779, 9783319023786 |
| سال نشر | 2014 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 260 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 7 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد