دانلود کتاب Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
| عنوان فارسی | میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی برای نانوالکترونیک |
|---|---|
| عنوان اصلی | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics |
| ویرایش | [1st ed. 2019] |
| ناشر | Springer International Publishing |
| نویسنده | Umberto Celano |
| ISBN | 9783030156114, 9783030156121 |
| سال نشر | 2019 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | XX, 408 [424] |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 22 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد