دانلود کتاب Electromigration in Metals: Fundamentals to Nano-Interconnects
| عنوان فارسی | مهاجرت الکتریکی در فلزات: مبانی اتصالات نانو |
|---|---|
| عنوان اصلی | Electromigration in Metals: Fundamentals to Nano-Interconnects |
| ویرایش | [1 ed.] |
| ناشر | Cambridge University Press |
| نویسنده | Paul S. Ho, Chao-Kun Hu, Martin Gall, Valeriy Sukharev |
| ISBN | 1107032385, 9781107032385 |
| سال نشر | 2022 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 430 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 18 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد