دانلود کتاب Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability
| عنوان فارسی | الکتریکی در فیلم های نازک و دستگاه های الکترونیکی: مواد و قابلیت اطمینان |
|---|---|
| عنوان اصلی | Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability |
| ناشر | Woodhead Publishing |
| نویسنده | Choong-Un Kim |
| ISBN | 1845699378, 9781845699376 |
| سال نشر | 2011 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 345 |
| دسته | ابزار |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 7 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های مرتبط