دانلود کتاب Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling
| عنوان فارسی | مبانی بی ثباتی دما در ترانزیستورهای MOS: روشهای توصیف ، فرایند و تأثیر مواد ، مدلسازی DC و AC |
|---|---|
| عنوان اصلی | Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer India |
| نویسنده | Souvik Mahapatra (eds.) |
| ISBN | 9788132225072, 9788132225089 |
| سال نشر | 2016 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 281 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 21 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی