دانلود کتاب Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
| عنوان فارسی | مدلسازی سلسله مراتبی برای تست مدار VLSI |
|---|---|
| عنوان اصلی | Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer US |
| نویسنده | Debashis Bhattacharya, John P. Hayes (auth.) |
| ISBN | 9781461288190, 9781461315278 |
| سال نشر | 1990 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 167 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 5 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی