دانلود کتاب High resolution X-ray diffractometry and topography
| عنوان فارسی | پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا |
|---|---|
| عنوان اصلی | High resolution X-ray diffractometry and topography |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Taylor & Francis |
| نویسنده | D.K. Bowen, Brian K. Tanner |
| ISBN | 0850667585, 9780203979198 |
| سال نشر | 1998 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 278 |
| دسته | فیزیک |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 8 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های مرتبط