دانلود کتاب Identification of Defects in Semiconductors
| عنوان فارسی | شناسایی عیوب در نیمه هادی ها |
|---|---|
| عنوان اصلی | Identification of Defects in Semiconductors |
| ناشر | Elsevier, Academic Press |
| نویسنده | Michael Stavola (Eds.) |
| ISBN | 0127521658, 9780080864495 |
| سال نشر | 1999 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 449 |
| دسته | الکترونیک: رادیو |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 19 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های مرتبط