دانلود کتاب Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability-A Physics of Failure Approach
| عنوان فارسی | تأثیر دما بر میکروالکترونیک و قابلیت اطمینان سیستم - رویکرد فیزیک شکست |
|---|---|
| عنوان اصلی | Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability-A Physics of Failure Approach |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | CRC Press |
| نویسنده | Pradeep Lall (Author); Michael G. Pecht (Author); Edward B. Hakim (Author) |
| ISBN | 9780849394508, 9780429600074 |
| سال نشر | 1997 |
| زبان | |
| تعداد صفحات | 327 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 102 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
وضعیت : موجود
قیمت : 65,000 تومان
مشاهد کتاب در آمازون
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی