دانلود کتاب Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons
| عنوان فارسی | بیضی سنجی مادون قرمز در ساختارهای لایه نیمه هادی: فونون ، پلاسمون و پولاریتون |
|---|---|
| عنوان اصلی | Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer-Verlag Berlin Heidelberg |
| نویسنده | Mathias Schubert (auth.) |
| ISBN | 9783540232490, 9783540447016 |
| سال نشر | 2005 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 181 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 10 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی