دانلود کتاب Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
| عنوان فارسی | طیف سنجی مادام العمر: روشی از خصوصیات نقص در سیلیکون برای کاربردهای فتوولتائیک |
|---|---|
| عنوان اصلی | Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer-Verlag Berlin Heidelberg |
| نویسنده | Dr. Stefan Rein (auth.) |
| ISBN | 9783540253037, 9783540279228 |
| سال نشر | 2005 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 512 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 8 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد