دانلود کتاب Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
| عنوان فارسی | طیف سنجی طول عمر: روشی برای مشخص کردن نقص در سیلیکون برای کاربردهای فتوولتائیک (سری اسپرینگر در علم مواد، 85) |
|---|---|
| عنوان اصلی | Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85) |
| ناشر | Springer |
| نویسنده | Stefan Rein |
| ISBN | 3540253033, 9783540253037 |
| سال نشر | 2005 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 513 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 8 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی