دانلود کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)
| عنوان فارسی | ترموگرافی قفل شده: اصول و کاربرد برای ارزیابی وسایل و مواد الکترونیکی (سری اسپرینگر در میکروالکترونیک پیشرفته، 10) |
|---|---|
| عنوان اصلی | Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10) |
| ناشر | Springer |
| نویسنده | Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp |
| ISBN | 3642024165, 9783642024160 |
| سال نشر | 2010 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 260 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 7 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی