دانلود کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components
| عنوان فارسی | ترموگرافی قفل شده: اصول و کاربرد برای تشخیص عملکردی قطعات الکترونیکی |
|---|---|
| عنوان اصلی | Lock-in Thermography: Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components |
| ناشر | Springer Berlin Heidelberg |
| نویسنده | Dr. Otwin Breitenstein, Dr. Martin Langenkamp (auth.) |
| ISBN | 9783642077852, 9783662083963 |
| سال نشر | 2003 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 197 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 7 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی