دانلود کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
| عنوان فارسی | ترموگرافی قفل: اصول و کاربرد برای ارزیابی وسایل و مواد الکترونیکی |
|---|---|
| عنوان اصلی | Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials |
| ویرایش | 3rd ed. |
| ناشر | Springer International Publishing |
| نویسنده | Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert |
| ISBN | 9783319998244, 9783319998251 |
| سال نشر | 2018 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 339 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 12 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد