دانلود کتاب Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
| عنوان فارسی | قابلیت اطمینان طولانی مدت سیستم های Nanometer VLSI: مدل سازی ، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی |
|---|---|
| عنوان اصلی | Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer |
| نویسنده | Sheldon Tan, Mehdi Tahoori, Taeyoung Kim, Shengcheng Wang, Zeyu Sun, Saman Kiamehr |
| ISBN | 3030261719, 9783030261719 |
| سال نشر | 2019 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 0 |
| فرمت کتاب | epub - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 64 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
وضعیت : موجود
قیمت : 80,000 تومان
مشاهد کتاب در آمازون
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد