دانلود کتاب Metrology and diagnostic techniques for nanoelectronics
| عنوان فارسی | اندازهشناسی و تکنیکهای تشخیصی نانوالکترونیک |
|---|---|
| عنوان اصلی | Metrology and diagnostic techniques for nanoelectronics |
| ناشر | Pan Stanford Publishing |
| نویسنده | Ma, Zhiyong; Seiler, David G |
| ISBN | 9781351733953, 1351733958 |
| سال نشر | 2017 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 1454 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 58 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی