دانلود کتاب Microelectronics Reliability: Physics-of-Failure Based Modeling and Lifetime Evaluation
| عنوان فارسی | قابلیت اطمینان میکروالکترونیک: مدل سازی مبتنی بر فیزیک شکست و ارزیابی طول عمر |
|---|---|
| عنوان اصلی | Microelectronics Reliability: Physics-of-Failure Based Modeling and Lifetime Evaluation |
| ناشر | |
| نویسنده | White M., Bernstein J.B. |
| ISBN | |
| سال نشر | |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 216 |
| دسته | مهندسی مکانیک |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 6 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های مرتبط