دانلود کتاب Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
| عنوان فارسی | نقص های ناشی از عکس در نیمه هادی ها (مطالعات کمبریج در فیزیک نیمه هادی ها و مهندسی میکروالکترونیک، سری شماره 4) |
|---|---|
| عنوان اصلی | Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4) |
| ویرایش | Illustrated |
| ناشر | Cambridge University Press |
| نویسنده | David Redfield, Richard H. Bube |
| ISBN | 0521461960, 9780521461962 |
| سال نشر | 1996 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 228 |
| فرمت کتاب | djvu - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 2 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد