دانلود کتاب Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
| عنوان فارسی | تست قدرت محدود مدارهای VLSI (مرزها در تست الکترونیکی) |
|---|---|
| عنوان اصلی | Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing) |
| ویرایش | 1st |
| ناشر | |
| نویسنده | Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi |
| ISBN | 0071358854, 140207235X |
| سال نشر | 2000 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 191 |
| دسته | الکترونیک |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 11 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
وضعیت : موجود
قیمت : 82,000 تومان
مشاهد کتاب در آمازون
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های مرتبط