دانلود کتاب Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact
| عنوان فارسی | پیشرفتهای اخیر در ناپایداری دمایی بایاس منفی PMOS: مشخصهسازی و مدلسازی معماری دستگاه، تأثیر مواد و فرآیند |
|---|---|
| عنوان اصلی | Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact |
| ناشر | Springer |
| نویسنده | Souvik Mahapatra |
| ISBN | 9811661197, 9789811661198 |
| سال نشر | 2021 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 334 [322] |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 17 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی