دانلود کتاب Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
| عنوان فارسی | مکانیسمهای فرسودگی قابلیت اطمینان در فناوریهای پیشرفته CMOS (سری مطبوعاتی IEEE در سیستمهای میکروالکترونیک) |
|---|---|
| عنوان اصلی | Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems) |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Wiley-IEEE Press |
| نویسنده | Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu, Rolf-Peter Vollertsen, Jordi Sune, Giuseppe La Rosa, Timothy D. Sullivan, Stewart E. Rauch III |
| ISBN | 0471731722, 9780471731726 |
| سال نشر | 2009 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 643 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 5 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد