دانلود کتاب Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
| عنوان فارسی | قابلیت اطمینان، بازده و سوختن استرس: رویکردی واحد برای تولید و توسعه نرم افزار سیستم های میکروالکترونیک |
|---|---|
| عنوان اصلی | Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer US |
| نویسنده | Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim (auth.) |
| ISBN | 9780792381075, 9781461556718 |
| سال نشر | 1998 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 407 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 26 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی