دانلود کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979
| عنوان فارسی | طیف سنجی جرمی ثانویه یونی SIMS II: مجموعه مقالات دومین کنفرانس بین المللی طیف سنجی جرمی یونی ثانویه (SIMS II) دانشگاه استنفورد ، استنفورد ، کالیفرنیا ، ایالات متحده 27 تا 31 اوت 1979 |
|---|---|
| عنوان اصلی | Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979 |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer-Verlag Berlin Heidelberg |
| نویسنده | Nicholas Winograd (auth.), Prof. A. Benninghoven, Dr. C. A. Evans Jr., Dr. R. A. Powell, Prof. R. Shimizu, Dr. H. A. Storms (eds.) |
| ISBN | 9783642618734, 9783642618710 |
| سال نشر | 1979 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 310 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 20 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی