دانلود کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V: Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 – October 4, 1985
| عنوان فارسی | طیف سنجی جرمی یون ثانویه SIMS V: مجموعه مقالات پنجمین کنفرانس بین المللی، واشنگتن، دی سی، 30 سپتامبر - 4 اکتبر 1985 |
|---|---|
| عنوان اصلی | Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V: Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 – October 4, 1985 |
| ویرایش | [1 ed.] |
| ناشر | Springer-Verlag Berlin Heidelberg |
| نویسنده | R. E. Honig (auth.), Professor Dr. Alfred Benninghoven, Dr. Richard J. Colton, Dr. David S. Simons, Dr. Helmut W. Werner (eds.) |
| ISBN | 9783642827266, 9783642827242 |
| سال نشر | 1986 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 564 [577] |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 15 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی