دانلود کتاب Spectroscopic ellipsometry : practical application to thin film characterization
| عنوان فارسی | بیضی سنجی طیف سنجی: کاربرد عملی برای تعیین خصوصیات لایه نازک |
|---|---|
| عنوان اصلی | Spectroscopic ellipsometry : practical application to thin film characterization |
| ناشر | Momentum Press |
| نویسنده | Hilfiker, James N.; Tompkins, Harland G |
| ISBN | 1606507273, 9781606507285 |
| سال نشر | 2016 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 194 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 23 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی