دانلود کتاب System-on-Chip Test Architectures. Nanometer Design for Testability
| عنوان فارسی | معماری تست سیستم روی تراشه طراحی نانومتری برای آزمایش پذیری |
|---|---|
| عنوان اصلی | System-on-Chip Test Architectures. Nanometer Design for Testability |
| ناشر | Morgan Kaufmann |
| نویسنده | Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud and Nur A. Touba (Eds.) |
| ISBN | 9780123739735 |
| سال نشر | 2008 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 862 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 22 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی