دانلود کتاب Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach
| عنوان فارسی | مفاهیم آزمایش پذیری برای آی سی های دیجیتال: رویکرد آزمون کلان |
|---|---|
| عنوان اصلی | Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer US |
| نویسنده | F. P. M. Beenker, R. G. Bennetts, A. P. Thijssen (auth.) |
| ISBN | 9781461360049, 9781461523659 |
| سال نشر | 1995 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 215 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 9 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی