دانلود کتاب The Physics of Si: O2 and its Interfaces. Proceedings of the International Topical Conference on the Physics of Si: O2 and Its Interfaces Held at the IBM Thomas J. Waston Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22–24, 1978
| عنوان فارسی | فیزیک Si: O2 و رابط های آن. مجموعه مقالات همایش بین المللی موضوعی در مورد فیزیک Si: O2 و رابطهای آن در مرکز تحقیقات IBM Thomas J. Waston ، Yorktown Heights ، نیویورک ، 22 تا 24 مارس 1978 |
|---|---|
| عنوان اصلی | The Physics of Si: O2 and its Interfaces. Proceedings of the International Topical Conference on the Physics of Si: O2 and Its Interfaces Held at the IBM Thomas J. Waston Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22–24, 1978 |
| ناشر | Pergamon Press |
| نویسنده | Sokrates T. Pantelides (Eds.) |
| ISBN | 9780080230498 |
| سال نشر | 1978 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 493 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 14 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی