دانلود کتاب Thin film analysis by X-ray scattering
| عنوان فارسی | تجزیه و تحلیل لایه نازک با پراکندگی اشعه ایکس |
|---|---|
| عنوان اصلی | Thin film analysis by X-ray scattering |
| ناشر | Wiley-VCH |
| نویسنده | Mario Birkholz |
| ISBN | 9783527310524, 3527310525 |
| سال نشر | 2006 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 370 |
| دسته | تحلیل و بررسی |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 5 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های مرتبط