دانلود کتاب Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
| عنوان فارسی | تجزیه و تحلیل لایه نازک توسط پراکندگی اشعه ایکس |
|---|---|
| عنوان اصلی | Thin Film Analysis by X-Ray Scattering |
| ویرایش | 1st edition |
| ناشر | |
| نویسنده | Birkholz M., Fewster P.F., Genzel C. |
| ISBN | |
| سال نشر | 2006 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 381 |
| دسته | تحلیل و بررسی |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 5 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های مرتبط