دانلود کتاب VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers
| عنوان فارسی | طراحی و آزمایش VLSI: بیست و یکمین سمپوزیوم بین المللی ، VDAT 2017 ، Roorkee ، هند ، 29 ژوئن - 2 ژوئیه 2017 ، نسخه های تجدید نظر شده |
|---|---|
| عنوان اصلی | VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer Singapore |
| نویسنده | Brajesh Kumar Kaushik,Sudeb Dasgupta,Virendra Singh (eds.) |
| ISBN | 9789811074691, 9789811074707 |
| سال نشر | 2017 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 820 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 96 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی