دانلود کتاب VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
| عنوان فارسی | اصول و معماری آزمون VLSI: طراحی برای آزمایش پذیری |
|---|---|
| عنوان اصلی | VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability |
| ویرایش | [1 ed.] |
| ناشر | Morgan Kaufmann |
| نویسنده | Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen |
| ISBN | 9780123705976, 0123705975 |
| سال نشر | 2006 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 809 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 6 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی