دانلود کتاب Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits
| عنوان فارسی | تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع |
|---|---|
| عنوان اصلی | Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Artech House Publishers |
| نویسنده | Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty |
| ISBN | 1596939893, 9781596939899 |
| سال نشر | 2010 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 215 |
| دسته | الکترونیک: رادیو |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 3 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های مرتبط