دانلود کتاب X-ray metrology in semiconductor manufacturing
| عنوان فارسی | Metrology اشعه ایکس در تولید نیمه هادی |
|---|---|
| عنوان اصلی | X-ray metrology in semiconductor manufacturing |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | CRC/Taylor & Francis |
| نویسنده | D. Keith Bowen, Brian K. Tanner |
| ISBN | 0849339286, 9781420005653 |
| سال نشر | 2006 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 273 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 10 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد